NS3500高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料研究所研發的一款高速3D顯微鏡。與傳統的3D探針輪廓儀相比較，NS3500使用405nm的激光作為光源，進行無損傷檢測，不與樣品的表面直接接觸，因此不會損傷樣品的表面，測量精度遠遠高于探針輪廓儀。

NS3600 激光三維表面輪廓儀是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料科學研究所研發的一款激光共聚焦顯微鏡。NS3600 采用的是638nm 的激光作為光源，測量時無需與樣品表面接觸即可獲得樣品表面的三維測量數據，是進行材料表面檢測有效的工具。

NS3800高速3D激光共聚焦顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為低維材料研究所研發的一款高速3D顯微鏡。與傳統的3D探針輪廓儀相比較，NS3800使用405nm的激光作為光源，進行無損傷檢測，不與樣品的表面直接接觸，因此不會損傷樣品的表面，測量精度遠遠高于探針輪廓儀。

NS-3500 Solar 是韓國Nanoscope Systems 針對半導體晶圓質量檢測設計的一種準確、可靠的測量系統，通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。使用高精度PZT，操作簡便，擁有自動對焦、自動測量等功能。應用于半導體、太陽能。芯片、OLED等工業生產控制。可拓展在線檢測。

NS-3500是一種可靠的三維掃描系統。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，可以為半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等提供各種解決方案。

NS-3500G 是一種可靠的三維非接觸式掃描儀。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，可以為半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等提供各種解決方案。

NS-3500L 是一種準確、可靠的大面積高速3D激光掃描儀。通過快速光學掃描模塊和信號處理算法實現實時共焦顯微圖像。在測量和檢測微觀三維結構，可以為半導體晶片，FPD產品，MEMS設備，玻璃基板，材料表面等提供各種解決方案。